您的位置首页百科知识

X射线荧光光谱分析(2003年3月科学出版社出版的图书)

X射线荧光光谱分析(2003年3月科学出版社出版的图书)

的有关信息介绍如下:

X射线荧光光谱分析(2003年3月科学出版社出版的图书)

《X射线荧光光谱分析》是由吉昂、陶光仪、卓尚军、罗立强合著的教材,2003年3月由中国科技出版传媒股份有限公司(科学出版社)出版,隶属于《中国科学院研究生教学丛书》 。

该书系统阐述了X射线荧光光谱分析的理论体系与实验技术,涵盖波长色散和能量色散两种分析方法的原理、仪器结构及性能测试方法。重点论述基体校正、样品制备技术、定量分析流程及理论强度计算公式,详细解析半定量分析、薄膜镀层分析、不确定度评定等专项技术,并通过化学计量学应用案例扩展分析方法。附录收录特征X射线参数表等实用数据,内容涉及化学态分析实践方法与无损检测应用场景 。

想要了解更多“X射线荧光光谱分析(2003年3月科学出版社出版的图书)”的信息,请点击:X射线荧光光谱分析(2003年3月科学出版社出版的图书)百科