probecard
的有关信息介绍如下:
probecard是半导体晶圆测试(CP测试)中的核心接口部件与耗材,用于连接自动测试设备(ATE)与晶圆上的芯片焊垫,在芯片封装前进行电性能测试与筛选,以管控成本、提升良率。其核心结构包括承载探针的PCB板、实现电气接触的探针以及增强机械强度的补强板等。根据技术原理,主要分为悬臂式、垂直式和先进的MEMS探针卡,其中MEMS探针卡因高精度、高密度特性,已成为测试先进制程(如CPU、GPU、AI芯片)的主流选择。全球市场由海外企业主导,但国内厂商在相关领域正加速发展。
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